Spectromètre à dispersion d'énergie

Ce détecteur est couplé au microscope à balayage hébergé au laboratoire Environnement Profond. Il s’agit d’un spectromètre à dispersion d’énergie basé sur un détecteur au silicium à diffusion (silicon drift detector – SDD) d’une surface de 80 mm2 de chez OXFORDTM.

Cet outil permet de réaliser des microanalyses en mesurant l’intensité des rayonnements X générés lors de l’excitation de l’échantillon par le faisceau d’électrons du MEB. Ce détecteur SDD est particulièrement adapté aux forts taux de comptage très utiles notamment en cartographie X.

Le détecteur est piloté par le logiciel AZTec (OXFORDTM) et permet de réaliser des cartographies X sur des échantillons de grandes tailles (plusieurs cm) avec une résolution de 1-2 microns. Le module « Feature » permet également de scanner un échantillon pour détecter la ou les phases recherchées (exemple : grains d’or) et ainsi obtenir des informations sur la quantité de grains présents, leur distribution dans l’échantillon mais également leurs tailles et leurs morphologies. Ce type d’approche peut être également utilisé pour sélectionner précisément les zones adaptées aux analyses quantitatives à la microsonde électronique ; permettant ainsi d’optimiser le temps d’analyse.